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您的位置：網(wǎng)站首頁(yè) > 技術(shù)文章 > HALT箱和HASS箱試驗(yàn)介紹 HALT*HASS試驗(yàn)箱提供的高溫變速率以及寬頻隨機(jī)振動(dòng)獲取更多收益。HALT測(cè)試（高加速壽命測(cè)試）是目前世界的主流制造商廣泛采用的驗(yàn)證性測(cè)試方法，用于發(fā)現(xiàn)電子或機(jī)電系統(tǒng)組件的設(shè)計(jì)缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。這些缺陷經(jīng)常出現(xiàn)在新產(chǎn)品發(fā)布后的終端應(yīng)用領(lǐng)域，從而引起產(chǎn)品失效。HALT測(cè)試可以極大的提高產(chǎn)品質(zhì)量，縮短新產(chǎn)品研發(fā)上市的時(shí)間并降低保修成本。
環(huán)境模擬試驗(yàn)：
早在1940年代美國(guó)就對(duì)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)開(kāi)始采用單因素環(huán)境的研制試驗(yàn)與鑒定試驗(yàn)，以檢驗(yàn)設(shè)計(jì)的質(zhì)量與可靠性（1），至70年代發(fā)展到采用綜合環(huán)境可靠性試驗(yàn)CERT和任務(wù)剖面試驗(yàn)，為檢驗(yàn)工藝則采用不帶設(shè)計(jì)作度的驗(yàn)收試驗(yàn)。
隨著環(huán)境模擬試驗(yàn)技術(shù)的發(fā)展與成熟，各政府部門及軍兵種相繼頒了一系列的國(guó)標(biāo)、軍標(biāo)，以嚴(yán)格的法規(guī)形式來(lái)保證產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性，其中有代表性的如環(huán)境模擬試驗(yàn)軍標(biāo)MLIL-STD-810可靠性試驗(yàn)軍標(biāo)MIL-STD-781和空間飛行器試驗(yàn)軍標(biāo)MIL-STD-1540以及它們的修訂版，具體產(chǎn)品型號(hào)則根據(jù)這些標(biāo)準(zhǔn)與型號(hào)的特點(diǎn)制訂詳細(xì)的試驗(yàn)大鋼，長(zhǎng)期以來(lái)環(huán)境模擬試驗(yàn)便成為保障產(chǎn)品可靠性主要手段。
這種方法的不足之處是對(duì)設(shè)計(jì)和工藝缺陷未作專門處理，只分別通過(guò)鑒定試驗(yàn)與驗(yàn)收試驗(yàn)解決，因此潛在的缺陷殘留量仍不少，隨時(shí)都是可能在外場(chǎng)使用出現(xiàn)故障，可靠性的增長(zhǎng)靠自然反饋緩緩地實(shí)現(xiàn)，這時(shí)木已憂舟，留給設(shè)計(jì)修改的時(shí)間與間空者極其有限，從而使市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)的優(yōu)勢(shì)在為降低。
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